基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法

• 作者: 刘云杰 卢小鹏 李坤 李辉 梁平
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: Chan-Vese模型 TFT-LCD Mura缺陷 水平集 半隐差分格式
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 成像技术与图像处理
• 页码范围: 146-151
• 页数: 6页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 3477字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20142901.0146

摘要

针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性.在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高.实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李辉	电子科技大学航空航天学院	95	836	16.0	23.0
2	梁平	四川出入境检验检疫局机电处	4	65	3.0	4.0
3	卢小鹏	电子科技大学航空航天学院	2	30	2.0	2.0
4	刘云杰	四川出入境检验检疫局机电处	3	34	3.0	3.0
5	李坤	电子科技大学航空航天学院	8	59	5.0	7.0