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摘要:
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大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
集成电路
集成电路测试程序
开发过程
影响要素
评审
大规模集成电路的高低温测试技术
高低温测试
热流系统
温度建立时间
国外超大规模集成电路的生产状况
超大规模集成电路
武器装备
发展对策
主流产品
以平台为主导的集成电路产业创新网络博弈演化研究
集成电路
创新网络
博弈演化
主导权
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 集成电路产业:要注重特色工艺提升规模效益
来源期刊 科技导报 学科
关键词
年,卷(期) 2014,(2) 所属期刊栏目 卷首语
研究方向 页码范围 1
页数 1页 分类号
字数 2202字 语种 中文
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邹世昌 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 20 60 4.0 7.0
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科技导报
半月刊
1000-7857
11-1421/N
大16开
北京市海淀区学院南路86号
2-872
1980
chi
出版文献量(篇)
11426
总下载数(次)
48
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68910
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