集成电路辐射敏感度混响室测试方法

• 作者: Ralf Heinrich Robert Bechly Teseq GmbH 黄锐明
• 来源期刊: 安全与电磁兼容
• 关键词: 混响室 电磁兼容 集成电路 发射 敏感度
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 产品介绍
• 页码范围: 74-76,84
• 页数: 4页
• 字数: 2518字
• 语种: 中文

摘要

介绍了混响室测试法的工作原理,并通过对GTEM法与混响室法的测试方法和测试结果的对比分析,表明混响室测试方法在1 GHz以上的高频范围测量集成电路(IC)的辐射敏感度更有优势.