应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术

• 作者: 张立超 时光 武潇野
• 来源期刊: 中国光学
• 关键词: 光热方法 光声法 激光量热法 激光辐照 检测技术
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 701-711
• 页数: 11页
• 字数: 6898字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CO.20140705.0701

摘要

本文介绍了光热与光声探测技术的基本原理，结合光学薄膜的吸收测试、光学薄膜的激光辐照特性表征、激光损伤特性表征以及光学薄膜的机械性质表征等各种具体应用，对激光量热法、光热偏转法、表面声波法等典型的光热、光声检测方法进行了分析；阐述了这些方法的测试原理以及各自优势与不足。介绍了该领域利用这些方法取得的一些成果，并就光声光热检测技术的发展趋势做了展望。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张立超	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	31	306	10.0	16.0
2	时光	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	9	38	4.0	6.0
3	武潇野	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	3	13	2.0	3.0