眼电伪迹自动去除方法的研究与分析

• 作者: 孙炎珺 李明爱 杨金福 梅意城
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 脑电接口 眼电伪迹去除 离散小波变换 典型相关分析 显著性检验
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 学 术 论 文
• 页码范围: 2515-2523
• 页数: 9页
• 分类号: TH79
• 字数: 5025字
• 语种: 中文

摘要

脑电信号采集时很容易受到眼电信号的干扰，从而影响脑机接口系统的性能。为此，提出一种基于离散小波变换(DWT)和典型相关分析(CCA)的眼电伪迹自动去除方法，即 DCCA 法。首先，对采集的多导脑电信号和眼电信号进行离散小波变换，获得多尺度小波系数，并利用典型相关分析去除小波系数间的相关性，得到互不相关的典型小波系数；进而，利用相关系数判别眼迹成分，将相应典型小波系数置零并依次采用 CCA逆变换和 DWT逆变换重构剔除眼电伪迹后的脑电信号。基于9位实验者的4种眼电数据进行实验研究，并从统计学的角度对实验结果进行显著性检验。结果表明， DCCA法相对其他方法在均方根误差、信噪比方面具有显著优势，且具有较好的实时性，并表现出较强的适应能力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李明爱	北京工业大学电子信息与控制工程学院	35	413	10.0	19.0
2	杨金福	北京工业大学电子信息与控制工程学院	28	315	9.0	17.0
3	孙炎珺	北京工业大学电子信息与控制工程学院	10	37	4.0	6.0
4	梅意城	北京工业大学电子信息与控制工程学院	1	9	1.0	1.0