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NORFLASH存储芯片测试程序的设计
NORFLASH存储芯片测试程序的设计
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摘要：
在公司现有硬件平台基础上，开发设计测试程序对NORFLASH存储芯片进行测试。实验结果表明，该测试程序的设计能避免由于无测试工具而无法测试到的储存区块损坏造成的设备运行异常，并实现测试自动化。
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研究主题发展历程
节点文献
NORFLASH
存储芯片
测试程序
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
总被引数（次）
46655
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