多层瓷介电容器绝缘特性RC的研究

• 作者: 张超 李娟
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 多层瓷介电容器 时间常数 RC绝缘特性 Ni内电极 Pd/Ag内电极 氧空位
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 可 靠 性
• 页码范围: 92-95
• 页数: 4页
• 分类号: TM53
• 字数: 3020字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.01.023

摘要

采用N-沟道MOS场效应晶体管搭建电路，测得了多层瓷介电容器通过本身绝缘电阻放电的时间常数τ，对比了Ni和Pd/Ag内电极多层瓷介电容器的绝缘特性RC（绝缘电阻乘以电容量）指标，分析了Ni内电极绝缘特性较差的原因和潜在风险。结果表明：RC反映了介质材料的本身属性，代表电容器通过本身绝缘电阻放电的时间常数τ；Ni内电极的RC考核指标相对于Pd/Ag内电极从1000 s降至100 s；Ni内电极多层瓷介电容器在高可靠长寿命电路使用时应提高其绝缘特性RC的考核指标。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李娟	上海航天技术研究院技术基础所	3	1	1.0	1.0
2	张超	上海航天技术研究院技术基础所	3	4	1.0	1.0