集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计磁

• 作者: 刘倩 李轩冕 胡勇
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试系统 总定时精度 校准
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 校准原理与方法
• 页码范围: 29-31,69
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 2978字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.009

摘要

在高速集成电路测试应用中，当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时，其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns 的偏差都将导致整个测试时序严重偏离，使测试结果失去意义。系统总定时精度（OTA）就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围内，各信号之间的相对时间是否准确的关键时间参量，必须进行校准保证其溯源性。论文以 V93000集成电路测试系统为例，介绍了集成电路测试系统总定时精度自动校准程序的设计方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李轩冕		4	12	2.0	3.0
2	刘倩		4	2	1.0	1.0
3	胡勇		6	12	2.0	3.0