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集成电路测试系统中波形数字化仪的校准研究
集成电路测试系统中波形数字化仪的校准研究
作者:
吴丹
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
混合信号
数字化仪
采样率
信号幅度
校准
摘要:
文章介绍了波形数字化仪的原理、结构、工作方式及特点,并针对其校准技术进行了深入的研究.通过多功能校准源、示波器及测试系统数字模块实现波形数字化仪模块的精确校准,解决了波形数字化仪模块的校准问题.校准结果表明,该校准装置及校准方法能够满足集成电路测试系统任意波形发生器的校准要求.
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内容分析
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文献信息
篇名
集成电路测试系统中波形数字化仪的校准研究
来源期刊
计算机与数字工程
学科
工学
关键词
混合信号
数字化仪
采样率
信号幅度
校准
年,卷(期)
2012,(7)
所属期刊栏目
系统结构
研究方向
页码范围
56-59
页数
分类号
TM93
字数
2927字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-9722.2012.07.020
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
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吴丹
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期刊影响力
计算机与数字工程
主办单位:
中国船舶重工集团公司第七0九研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1672-9722
CN:
42-1372/TP
开本:
大16开
出版地:
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
邮发代号:
创刊时间:
1973
语种:
chi
出版文献量(篇)
9945
总下载数(次)
28
总被引数(次)
47579
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