基于可控功耗的扫描分段测试结构

• 作者: 向东 江舟 神克乐
• 来源期刊: 清华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描测试 扫描分段 低功耗 可控捕获功耗 测试设计
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 889-894
• 页数: 6页
• 分类号: TP331.2
• 语种: 中文

摘要

随着芯片尺寸进入微纳米级时代,集成电路测试过程中产生的功耗也越来越大,已经成为了芯片生产和测试的瓶颈.已有的研究主要是降低移位功耗或者捕获功耗,但是很少有方法能够同时降低这2个阶段的功耗,而且目前还没有针对捕获功耗可控性的研究.该文提出了一种基于可控功耗的扫描分段结构,该结构能够控制移位阶段和捕获阶段的功耗,并且只需增加很小的面积开销.同时还设计了一种高效的电路结构分析算法来检测触发器之间的依赖关系,以及一种能够直接降低同一时刻触发器跳变的扫描分段策略,这种策略通过不断的迭代分段组合来完成最优分组.该分段方法是第一个基于电路结构依赖和时钟树影响的功耗可控方法.实验表明,该结构在ISCAS89和IWLS2005基准电路测试中都有明显的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向东		119	1085	17.0	27.0
2	神克乐		3	17	2.0	3.0
3	江舟		2	3	1.0	1.0