满足故障隔离率指标的测试序列优化差分进化算法

• 作者: 李渤 李靖 邱晓红
• 来源期刊: 数据采集与处理
• 学科: 工学
• 关键词: 差分进化 进化计算 故障隔离率 测试性
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 页码范围: 1132-1140
• 页数: 9页
• 分类号: TP391
• 字数: 5118字
• 语种: 中文

摘要

最优测试序列的设计是故障诊断过程中必须解决的非确定多项式（Non‐deterministic polyno‐mial ，NP）完全问题。基于自适应差分进化算法，提出一种惯性速度差分进化（Inertial velocity differenti‐al evolution ，IVDE）算法，通过增加额外的惯性速度项求解复杂电子系统最优测试序列问题（Optimal test sequence problem ，OTP）。为求解该优化问题设计了个体的状态与测试序列编码方式，构建了包含故障隔离率（Fault isolation rate ，FIR）等指标的个体适应度函数，通过优化生成诊断决策树来减少测试设备和测试成本。仿真结果表明，IVDE算法可以求得既满足FIR要求，又减少测试成本的测试序列。与粒子群优化算法（Particle swarm optimizer ，PSO ）、遗传算法（Genetic algorithm ，GA ）等其他算法相比，IVDE可以求解OTP，得到更好的解。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李渤	江西理工大学软件学院	15	39	3.0	5.0
2	邱晓红	江西理工大学软件学院	13	28	3.0	5.0
3	李靖	江西理工大学软件学院	1	0	0.0	0.0