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摘要:
本文研究了加封装层的V形无芯片标签的散射特性及其识别方法.考虑了封装层对标签识别的影响,改进了识别公式;分别研究了封装层的厚度和介电常数不同时标签的散射场及识别,并将其与改进前的识别结果进行了对比.仿真结果表明:改进后的公式提高了识别精度,识别误差均在2°以内,且封装层厚度和介电常数越小识别越准确.为了验证仿真结果,对120°封装标签进行了实验测量.结果表明测量结果与仿真结果相吻合.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 加封装层的V形无芯片标签的识别
来源期刊 测试技术学报 学科 工学
关键词 封装层 无芯片标签 散射场 标签角度
年,卷(期) 2016,(3) 所属期刊栏目 通信技术
研究方向 页码范围 241-245
页数 5页 分类号 TP29
字数 2341字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2016.03.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张文梅 山西大学物理电子工程学院 63 181 7.0 11.0
2 王芳 山西大学物理电子工程学院 27 173 5.0 13.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
封装层
无芯片标签
散射场
标签角度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
13975
论文1v1指导