一种数模混合芯片的可测性设计和实现

• 作者: 余向阳 张瑾 秦盼
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: SOC 可测性设计 测试向量
• 年，卷（期）: jcdltx_2016,（4）
• 页码范围: 22-27
• 页数: 6页
• 分类号: TN407

摘要

一种数模混合芯片通过在芯片设计过程中，增加了可测性设计，使得芯片建立故障的敏感化通路，观测到芯片对于激励的响应，从而判断电路是否存在故障。根据芯片各个模块的特性，采用不同的可测性方法对其进行具体设计，数字部分采用SCAN的测试方式进行可测性设计，内部的存储器采用MBIST的测试方法、并通过流片后使用测试台对芯片进行测试，对可测性设计进行了验证。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张瑾		7	30	2.0	5.0
2	余向阳		6	4	1.0	2.0
3	秦盼		1	0	0.0	0.0