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摘要:
利用磁控溅射法在单晶硅上制备了不同层厚比的WSx/a-C纳米多层膜(调制周期约50 nm).用扫描电镜、X射线衍射、能谱、X射线光电子谱和Raman光谱对薄膜的形貌、成分和组织结构等进行了表征.采用纳米压痕仪、划痕仪和球盘式摩擦仪测试了薄膜的硬度、结合力和在大气环境下(相对湿度约70%)的摩擦学性能.结果表明:随着层厚比La-C/LWSx的增加,多层膜的ns/nw比由1.38增大至1.62,并伴随着WS2尺寸的减小以及薄膜致密度和平整度的提高,a-C层和WSx层的结构无明显变化;多层膜的磨损率仅为纯WSx膜的1/3~1/4,摩擦因数由0.26降至0.2,硬度和磨损率均出现峰值,而结合力呈相反变化趋势.层厚比La-C/LWSx为1∶39的多层膜的摩擦因数为0.26,磨损率为9.8 ×10-14 m3/Nm,耐磨性最佳.
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文献信息
篇名 不同层厚比WSx/a-C多层膜的组织结构与摩擦学特性
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 工学
关键词 WS2 a-C 多层膜 摩擦与磨损 磁控溅射
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目 结构薄膜
研究方向 页码范围 659-665
页数 分类号 TH117.1
字数 语种 中文
DOI 10.13922/j.cnki.cjovst.2016.06.10
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑晓华 浙江工业大学材料科学与工程学院 35 161 7.0 10.0
2 杨芳儿 浙江工业大学材料科学与工程学院 32 87 6.0 7.0
3 章荣 浙江工业大学材料科学与工程学院 3 19 3.0 3.0
4 李昂 浙江工业大学材料科学与工程学院 4 11 2.0 3.0
5 沈靖枫 浙江工业大学材料科学与工程学院 4 11 2.0 3.0
6 史玉龙 浙江工业大学材料科学与工程学院 3 11 2.0 3.0
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a-C
多层膜
摩擦与磨损
磁控溅射
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真空科学与技术学报
月刊
1672-7126
11-5177/TB
大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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