灰度与亮度拟合对LCD面板Mura改善的影响

• 作者: 屠震涛 张小宁 梁志虎 梁鹏飞 樊瑞 王利民 黄泰钧
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示屏 Mura缺陷 分段伽马拟合
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 442-448
• 页数: 7页
• 分类号: TN27|TN702
• 字数: 3826字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20163105.0442

摘要

选择有限的采样灰度级准确拟合出整个灰度区间的亮度和灰度关系,是影响LCD面板Mura改善效果、实时性和成本的关键因素.通过迭代方法优化采样灰度级,并采用分段伽马拟合方法研究了采样灰度级对Mura改善的影响.针对1 920×1 080的55 inTFT-LCD模组,6个采样灰度级的优化使拟合亮度曲线与实际亮度曲线的相对误差之和在0～255灰度级从5.64降到3.68,4个采样灰度级的优化使相对误差之和从29.27降到8.98.通过对6个和4个优化采样灰度级的实验结果比较和分析,结果表明,4个优化采样灰度级可以在Mura改善效果、实时性及成本三者之间达到较好的平衡.