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摘要:
纯锡电镀过程中产品产生的锡片、锡渣是经常会遇到的问题,由于锡片、锡渣的产生是随机的且体积较小、外观颜色和镀层相近,因此生产过程中较难发现;同时锡片和锡渣的存在会造成产品的短路和电性能不良,使用过程中会造成电路烧坏和功能不稳定等问题;结合理论及实际生产过程分别对纯锡电镀过程中的锡片和锡渣产生的原因进行了讨论,并针对其原因从硬件升级和过程控制两个方面对锡片、锡渣问题的解决提出了改善建议.
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文献信息
篇名 集成电路纯锡电镀锡渣锡片问题探讨
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 钝化 锡渣 电镀
年,卷(期) 2016,(8) 所属期刊栏目 先进封装技术与设备
研究方向 页码范围 15-19
页数 5页 分类号 TN405
字数 2123字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘红波 2 0 0.0 0.0
2 王锋博 2 0 0.0 0.0
3 武爱丽 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
钝化
锡渣
电镀
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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