"多塔"3D-SIC的量子粒子群测试调度方法

• 作者: 崔小乐 王文明 缪旻 金玉丰
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: "多塔"3D-SIC 量子粒子群优化 测试调度 "部分堆" "终堆"
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 196-210
• 页数: 15页
• 分类号: TN47
• 字数: 11664字
• 语种: 中文

摘要

针对"多塔"结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行解,产生具有量子行为的新粒子,并更新粒子群;然后进行粒子群的迭代进化以获取全局最优解.最小化"终堆"测试时间和集成过程总测试的调度结果均表明,该方法可显著地缩短测试时间;当复杂晶片集成在3D-SIC底层时,"终堆"测试时间较短,而集成过程的总测试时间较长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	缪旻	北京信息科技大学信息与通信工程学院	31	28	3.0	4.0
2	王文明	北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室	7	9	2.0	2.0
3	崔小乐	北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室	16	77	5.0	8.0
4	金玉丰	北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室	14	60	5.0	6.0