基于DCT和Otsu的LCD缺陷检测算法

• 作者: 周亚丽 张奇志 温招洋
• 来源期刊: 北京信息科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 缺陷检测 背景不均匀 DCT 图像分割
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 50-54
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 2931字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16508/j.cnki.11-5866/n.2017.02.011

摘要

缺陷分割是液晶显示器(LCD)缺陷检测算法中的重要一步.为了检测背景不均匀LCD的缺陷,设计了一种基于离散余弦变换(DCT)和最大类间方差法(Otsu)的分割算法.首先通过DCT变换获取背景信息;然后利用DCT反变换重构出背景图像;最后通过求取原图和背景图像的差值图像,排除不均匀背景干扰,增强缺陷对比度,并利用Otsu分割算法分割出差值图像中的缺陷.实验结果表明,该算法能够检测常见的液晶屏缺陷,效果良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张奇志	北京信息科技大学自动化学院	111	209	8.0	10.0
2	周亚丽	北京信息科技大学自动化学院	104	252	8.0	12.0
3	温招洋	北京信息科技大学自动化学院	3	11	2.0	3.0