多电源域集成电路静电放电试验方法研究

• 作者: 姜汝栋 李小亮 蔡依林
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 静电放电 试验方法 多电源域
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TN406
• 字数: 1985字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路技术的发展,电路从原来的单一电源域向多电源域进行转移,而其中的静电放电(ESD)试验是考核集成电路性能的一项重要指标,如何有效选择合适的试验方法变得越来越重要.结合国内外相关静电放电试验标准,研究标准之间存在的相同和不同的地方.结合实际情况,探究多电源域集成电路静电放电试验方法的选择.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜汝栋		6	5	1.0	1.0
2	蔡依林		4	11	2.0	3.0
3	李小亮		4	2	1.0	1.0