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基于SMIC-28nm低功耗高精度带隙基准的研究
基于SMIC-28nm低功耗高精度带隙基准的研究
作者:
刘明
刘璟
孙海涛
纪书江
霍长兴
原文服务方:
微电子学与计算机
带隙基准
低功耗
低温漂
启动电路
摘要:
基于SMIC 28 nm工艺实现了一种用于Flash的低功耗高精度的带隙基准电路,在传统电压模结构上采用共源共栅结构提高了各支路偏置电流的精度和PSRR,设计过程中仿真了器件所有corner,温度范围-40~125℃和电源电压±10%的情况.300次Monte Carlo仿真输出电压平均值为1.19642 V,方差为5.011 mV,温度系数为7×10-6/℃,总电流仅为264 nA,电源电压为1.8 V时,最恶劣corner总电流为343 nA,低频1 kHz电源抑制比为-78 dB.该电路中设计了一款新的启动电路,该电路由带负反馈的三支路偏置电路和施密特触发器组成,极大地提高了电路的稳定性,芯片版图面积为105μm×110μm.
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篇名
基于SMIC-28nm低功耗高精度带隙基准的研究
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
带隙基准
低功耗
低温漂
启动电路
年,卷(期)
2017,(9)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
71-76
页数
6页
分类号
TN722
字数
语种
中文
DOI
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传播情况
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低功耗
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研究来源
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研究去脉
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期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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