一种选择单粒子瞬态脉冲敏感结点的方法

• 作者: 严佳倩 宋依青
• 来源期刊: 常州工学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子瞬态脉冲 逻辑掩蔽 软错误率 单粒子加固
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TN44
• 字数: 3154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0436.2018.02.008

摘要

逻辑电路中NMOS管或者PMOS管受到高能粒子撞击,会产生单粒子瞬态脉冲错误.针对这种现象,提出一种识别和选择电路中敏感结点的新方法,并与门的逻辑掩蔽效应加权综合考虑,对所选择的结点通过增大恢复管的尺寸来加固,以减小单粒子效应导致的软错误率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋依青	常州工学院计算机信息工程学院	27	99	6.0	8.0
2	严佳倩	常州工学院计算机信息工程学院	1	0	0.0	0.0