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摘要:
半导体器件的高速化、集成化要求其特征尺寸不断缩小,不可避免地导致短沟道效应,从而使得器件性能退化.提出了一种非平面沟道晶体管,利用二维半导体器件仿真软件SILVACO对其阈值电压退化、亚阈值特性和衬底电流进行了研究,并通过能带图、电势分布图和电场分布图探讨了其物理机理.研究表明非平面沟道晶体管可以很好地抑制阈值电压退化,改善器件的亚阈值特性,降低漏电流和衬底电流,提高击穿电压,从而抑制短沟道效应,提高器件的可靠性.
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文献信息
篇名 高性能非平面沟道场效应晶体管
来源期刊 应用科技 学科 工学
关键词 短沟道效应 场效应晶体管 非平面沟道 阈值电压 亚阈值特性
年,卷(期) 2018,(1) 所属期刊栏目 现代电子技术
研究方向 页码范围 51-55,60
页数 6页 分类号 TN386
字数 3477字 语种 中文
DOI 10.11991/yykj.201706022
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短沟道效应
场效应晶体管
非平面沟道
阈值电压
亚阈值特性
研究起点
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应用科技
双月刊
1009-671X
23-1191/U
大16开
哈尔滨市南通大街145号1号楼
14-160
1974
chi
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