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摘要:
出于成本考虑,引线键合材料已逐步从金线转变为铜线.然而,由于铜线键合技术的可靠性并没有得到系统性评估,限制了其在汽车、工业以及军事等领域的应用.为了系统性检测和评估铜线键合的机械可靠性,通常需要在注塑之后对器件进行开封检测,同时为保证检测结果的准确性,要求开封过程对引线产生的影响要小.然而,由于铜较金的化学活性更高,针对铜线键合器件的开封技术面临诸多挑战.在对主流塑封器件开封技术的研究基础上,提出了基于电解的开封方法,并对开封过程中的工艺参数进行了分析优化,最后进行了实验验证.结果表明,所设计的开封方法几乎不会对铜引线造成损伤,同时具备较低的成本和较高的开封效率.
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文献信息
篇名 基于电解的塑封铜引线键合器件的开封方法研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 铜线键合 开封 电解
年,卷(期) 2018,(z1) 所属期刊栏目 中科芯检测事业部第二届检测技术研讨会论文精选
研究方向 页码范围 18-21
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 2966字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱春生 2 0 0.0 0.0
2 郭朋飞 2 0 0.0 0.0
3 严迎建 2 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
铜线键合
开封
电解
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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