增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法

• 作者: 刘畅 梁斌 贺旭 郭阳
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误率 电荷共享效应 脉冲窄化效应 单粒子瞬态 详细布局方法 软错误率评估
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: VLSI 设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1158-1165
• 页数: 8页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 5713字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1089.2018.16631

摘要

为了提高芯片抗辐照性能, 提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法. 首先减少已有 quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应; 然后通过插入和交换操作增加电路中 quenching单元对数量, 以提高电路发生脉冲窄化效应的概率; 最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台, 可自动地完成布局及软错误率评估. 模拟结果表明, 该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度, 减少14%~26%的软错误率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭阳	国防科技大学计算机学院	50	449	9.0	20.0
2	梁斌	国防科技大学计算机学院	17	102	6.0	9.0
3	刘畅	国防科技大学计算机学院	5	0	0.0	0.0
4	贺旭	国防科技大学计算机学院	4	1	1.0	1.0