区熔单晶硅棒少子寿命的检测与分析

• 作者: 于跃 吴家印 吴锋 张天雨 高腾
• 来源期刊: 中国科技投资
• 关键词: 区熔单晶硅棒 少子寿命 检测 影响因素
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 理论广角
• 页码范围: 375
• 页数: 1页
• 字数: 1687字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5811.2018.07.345

摘要

光伏行业和半导体行业往往用区熔单晶硅棒的少子寿命评价其所产多晶硅料的重金属杂质含量,因此研究区熔单晶硅棒少子寿命的检测对实际生产有重要的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张天雨		1	0	0.0	0.0
2	吴锋		5	7	2.0	2.0
3	于跃		6	8	2.0	2.0
4	吴家印		1	0	0.0	0.0
5	高腾		1	0	0.0	0.0