基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
为了研究射频前端低噪声放大器的高功率微波效应,利用仿真软件构建了NPN型SiGe异质结双极型晶体管的器件模型,采用多晶硅作为发射极,SiGe作为器件的基极,研究了集电极和基极分别注入高功率微波时,器件内部温度的变化规律,分析了高功率微波的效应机理.结果 表明,高功率微波注入集电极时,器件内部峰值温度呈现周期性的“上升-下降-上升-下降”趋势,直至最终烧毁,烧毁位置在集电结与氧化层交界处;当高功率微波注入基极时,由于器件的发射极尺寸很小,产生的电流密度很大,热量无法耗散,器件的多晶硅发射结最终被烧毁.SiGe异质结双极型晶体管的集电极抗高功率微波的能力要强于基极.
推荐文章
双极型微波功率晶体管热失效原因分析
双极型微波功率晶体管
二次击穿
粘接不良
低电压C类SiGe微波功率异质结双极型晶体管
锗硅
异质结晶体管
微波功率晶体管
双极型晶体管高功率微波的损伤机理
高功率微波
晶体管
损伤
失效分析
高温功率循环下绝缘栅双极型晶体管失效特征及机理分析
绝缘栅双极型晶体管
功率循环
失效
键合引线
焊料层
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 SiGe异质结双极型晶体管的高功率微波效应与机理
来源期刊 现代应用物理 学科 工学
关键词 低噪声放大器 异质结双极型晶体管 高功率微波 损伤效应 机理分析
年,卷(期) 2019,(3) 所属期刊栏目 电磁场与电磁波
研究方向 页码范围 29-34
页数 6页 分类号 TN322.8
字数 3243字 语种 中文
DOI 10.12061/j.issn.2095-6223.2019.030503
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨银堂 西安电子科技大学微电子学院 420 2932 23.0 32.0
2 刘彧千 西安电子科技大学微电子学院 6 2 1.0 1.0
3 柴常春 3 0 0.0 0.0
4 吴涵 西安电子科技大学微电子学院 2 0 0.0 0.0
5 李赟 1 0 0.0 0.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (16)
共引文献  (20)
参考文献  (12)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1966(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1995(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2005(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2007(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2010(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2012(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2013(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2014(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2015(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2016(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2017(7)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(5)
2018(3)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(1)
2019(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2019(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
低噪声放大器
异质结双极型晶体管
高功率微波
损伤效应
机理分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代应用物理
季刊
2095-6223
61-1491/O4
大16开
西安市69信箱15分箱
2010
chi
出版文献量(篇)
533
总下载数(次)
1
总被引数(次)
594
论文1v1指导