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摘要:
为了研究射频前端低噪声放大器的高功率微波效应,利用仿真软件构建了NPN型SiGe异质结双极型晶体管的器件模型,采用多晶硅作为发射极,SiGe作为器件的基极,研究了集电极和基极分别注入高功率微波时,器件内部温度的变化规律,分析了高功率微波的效应机理.结果 表明,高功率微波注入集电极时,器件内部峰值温度呈现周期性的“上升-下降-上升-下降”趋势,直至最终烧毁,烧毁位置在集电结与氧化层交界处;当高功率微波注入基极时,由于器件的发射极尺寸很小,产生的电流密度很大,热量无法耗散,器件的多晶硅发射结最终被烧毁.SiGe异质结双极型晶体管的集电极抗高功率微波的能力要强于基极.
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文献信息
篇名 SiGe异质结双极型晶体管的高功率微波效应与机理
来源期刊 现代应用物理 学科 工学
关键词 低噪声放大器 异质结双极型晶体管 高功率微波 损伤效应 机理分析
年,卷(期) 2019,(3) 所属期刊栏目 电磁场与电磁波
研究方向 页码范围 29-34
页数 6页 分类号 TN322.8
字数 3243字 语种 中文
DOI 10.12061/j.issn.2095-6223.2019.030503
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨银堂 西安电子科技大学微电子学院 420 2932 23.0 32.0
2 刘彧千 西安电子科技大学微电子学院 6 2 1.0 1.0
3 柴常春 3 0 0.0 0.0
4 吴涵 西安电子科技大学微电子学院 2 0 0.0 0.0
5 李赟 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
低噪声放大器
异质结双极型晶体管
高功率微波
损伤效应
机理分析
研究起点
研究来源
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现代应用物理
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