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SiGe异质结双极型晶体管的高功率微波效应与机理
SiGe异质结双极型晶体管的高功率微波效应与机理
作者:
刘彧千
吴涵
李赟
杨银堂
柴常春
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
低噪声放大器
异质结双极型晶体管
高功率微波
损伤效应
机理分析
摘要:
为了研究射频前端低噪声放大器的高功率微波效应,利用仿真软件构建了NPN型SiGe异质结双极型晶体管的器件模型,采用多晶硅作为发射极,SiGe作为器件的基极,研究了集电极和基极分别注入高功率微波时,器件内部温度的变化规律,分析了高功率微波的效应机理.结果 表明,高功率微波注入集电极时,器件内部峰值温度呈现周期性的“上升-下降-上升-下降”趋势,直至最终烧毁,烧毁位置在集电结与氧化层交界处;当高功率微波注入基极时,由于器件的发射极尺寸很小,产生的电流密度很大,热量无法耗散,器件的多晶硅发射结最终被烧毁.SiGe异质结双极型晶体管的集电极抗高功率微波的能力要强于基极.
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高功率微波
晶体管
损伤
失效分析
内容分析
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内容分析
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关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
SiGe异质结双极型晶体管的高功率微波效应与机理
来源期刊
现代应用物理
学科
工学
关键词
低噪声放大器
异质结双极型晶体管
高功率微波
损伤效应
机理分析
年,卷(期)
2019,(3)
所属期刊栏目
电磁场与电磁波
研究方向
页码范围
29-34
页数
6页
分类号
TN322.8
字数
3243字
语种
中文
DOI
10.12061/j.issn.2095-6223.2019.030503
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
杨银堂
西安电子科技大学微电子学院
420
2932
23.0
32.0
2
刘彧千
西安电子科技大学微电子学院
6
2
1.0
1.0
3
柴常春
3
0
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4
吴涵
西安电子科技大学微电子学院
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参考文献(0)
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2019(2)
参考文献(0)
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
低噪声放大器
异质结双极型晶体管
高功率微波
损伤效应
机理分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代应用物理
主办单位:
西北核技术研究所
国防工业出版社
出版周期:
季刊
ISSN:
2095-6223
CN:
61-1491/O4
开本:
大16开
出版地:
西安市69信箱15分箱
邮发代号:
创刊时间:
2010
语种:
chi
出版文献量(篇)
533
总下载数(次)
1
总被引数(次)
594
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