检测晶体管失效的一类人工智能方法①

• 作者: 庄汉琪 王景焕
• 来源期刊: 佳木斯大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体管失效 模拟电路 故障植入 概率神经网络
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 电气工程与信息技术
• 页码范围: 917-919
• 页数: 3页
• 分类号: TP399
• 字数: 1782字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1402.2019.06.016

摘要

针对模拟电路中元器件故障检测方法不成熟的问题,利用故障植入法,对一类晶体管失效的模拟放大电路进行故障诊断与分类,高效快捷地获得故障特征数据,基于概率神经网络对故障进行分类,经过处理输入数据与调整Spread值,得到了精确度很高的概率神经网络模型,并且在实际电路中得到了进一步验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王景焕	南京工业职业技术学院航空工程学院	9	13	3.0	3.0
2	庄汉琪	南京工业职业技术学院航空工程学院	2	0	0.0	0.0