DDR器件关键测试向量的设计?

• 作者: 刘敦伟 李盛杰 石雪梅 顾颖
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: DDR 向量 测试
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 专栏·微电子计量测试
• 页码范围: 29-32,78
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3674字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2019.01.008

摘要

双倍数据速率(Double Data Rate,DDR)DRAM由于其速度快、容量大,而且价格便宜,在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用.论文介绍了DDR器件的基本工作原理及需重点关注的操作过程,通过建立合适的时序关系,基于ATE设计测试向量,实现DDR器件的功能测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李盛杰		3	14	2.0	3.0
2	石雪梅		5	8	2.0	2.0
3	顾颖		3	2	1.0	1.0
4	刘敦伟		3	7	2.0	2.0