高压IGBT模块在湿度影响下的寿命预估模型研究

• 作者: Eckhard Thal Kazuhiro Kurachi Keiichi Nakamura Kenji Hatori Shinichi lura Wiesner Eugen Yasutaka Kusakabe Yumie Kitajima
• 来源期刊: UPS应用
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT模块 湿度影响 预估模型 寿命 高压 加速因子 温度因素 试验
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 页码范围: 48-52
• 页数: 5页
• 分类号: TN322.8

摘要

本文介绍了高压IGET模块在湿度影响下的寿命预估模型。此模型涉及的湿度加速因子是从温湿偏置试验中提取的;高压IGBT的温湿偏置试验在不同的湿度和不同的电压下进行测试、目的是为了找出湿度和电压对高压IGBT寿命的影响。最终,我们把湿度和电压对高压IGBT寿命的影响以及温度因素都集成到寿命预估模型中。通过试验,我们同时发现湿度对高压IGBT模块的寿命有很大影响。