基于SURF的大尺寸表面疵病拼接暗场成像研究

• 作者: 唐瑞苓 宋德林 李璐璐 耿鹏武 黄伟
• 来源期刊: 机电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 表面疵病 暗场成像 图像拼接 SURF
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 检验检测
• 页码范围: 96-98,102
• 页数: 4页
• 分类号: TN247|TP391.4
• 字数: 1990字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19508/j.cnki.1672-4801.2019.02.027

摘要

表面疵病是衡量超精密加工表面完整性的重要指标之一.暗场成像是表面疵病检测的有力手段,但由于显微镜视场有限,难以进行全域缺陷检测,不能全面评价表面质量.提出选用SURF方法对子区域图像进行特征分析,对相邻子区域图像进行配准拼接,可以获得高质量的全域暗场图像.研究表明,SURF配准拼接具有良好的鲁棒性,而且计算速度较快,可实现超精密加工表面的全域疵病检测,具有很高的实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄伟	四川大学制造科学与工程学院	71	294	11.0	14.0
2	耿鹏武		3	1	1.0	1.0
3	宋德林		2	0	0.0	0.0
4	唐瑞苓	四川大学制造科学与工程学院	1	0	0.0	0.0
5	李璐璐	中国工程物理研究院机械制造技术研究所	1	0	0.0	0.0