自适应光亮度的LED缺陷检测算法

• 作者: 张揽宇 罗瑞荣 邓海祥 郑卓鋆 高健
• 来源期刊: 组合机床与自动化加工技术
• 学科: 工学
• 关键词: LED 特征圆提取 Otsu 阈值自调整 图像分割
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 控制与检测
• 页码范围: 46-50
• 页数: 5页
• 分类号: TH165|TG506
• 字数: 4443字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13462/j.cnki.mmtamt.2019.11.012

摘要

针对LED点胶缺陷检测速度慢、精度低等问题,提出一种自适应光亮度的LED缺陷检测算法.首先利用最小外接矩形法对LED进行位置校正;然后,对LED进行灰度梯度特征分析,获取荧光胶区域轮廓点坐标,并结合最小二乘法拟合特征圆,分离荧光胶区域;最后,分析了光照对LED缺陷分割的影响,提出基于大津法(Otsu)的自适应光亮度阈值分割方法,提取LED缺陷.经实验验证,所采用方法检测时间低于8ms,在光源的1～8级光亮度范围内,缺陷分割尺寸准确度在0.8以上,分割结果稳定,具备较好的光照变化鲁棒性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高健	广东工业大学机电工程学院电子精密制造技术及装备教育部重点实验室	81	637	12.0	21.0
2	张揽宇	广东工业大学机电工程学院电子精密制造技术及装备教育部重点实验室	7	14	3.0	3.0
3	邓海祥	广东工业大学机电工程学院电子精密制造技术及装备教育部重点实验室	15	165	7.0	12.0
4	罗瑞荣	广东工业大学机电工程学院电子精密制造技术及装备教育部重点实验室	1	0	0.0	0.0
5	郑卓鋆	广东工业大学机电工程学院电子精密制造技术及装备教育部重点实验室	1	0	0.0	0.0