微电子器件的可靠性优化研究

• 作者: 林波
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 电子信息技术 电子产品 微电子 可靠性
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 科技论坛
• 页码范围: 118-119
• 页数: 2页
• 字数: 2529字
• 语种: 中文

摘要

随着当前电子信息技术的发展,越来越多的微电子器件应用于日常生活中,电子设备的大量使用,也对微电子期间的可靠性提出了越来越高的要求.微电子期间的可靠性直接关系到电子设备应用功能的发挥,本文针对微电子期间的可靠性优化工作进行研究,通过分析当前影响微电子器件的可能因素,并在当前科技水平下,有针对性提出了一些提升微电子器件可靠性的办法,以期实现可靠性的优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林波		1	1	1.0	1.0