软错误缓解动态部分可重构的抗单粒子方案

• 作者: 曹进德 王兰 董宜平 谢达 郭俊杰
• 来源期刊: 南通大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 软错误缓解 TMR 动态部分可重构
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 智能科学与技术
• 页码范围: 48-55
• 页数: 8页
• 分类号: TP273
• 字数: 3164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12194/j.ntu.20191015001

摘要

随着基于静态随机存储器(static random-access memory,SRAM)型现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)广泛应用于航空航天领域,太空辐照环境下FPGA产生单粒子翻转(single event upset,SEU)问题的概率日益提高,从而导致FPGA出现单粒子闩锁现象引起功能紊乱.针对该问题,基于SRAM型FPGA的架构诱发SEU机理分析,对传统三模冗余(triple module redundancy,TMR)的方案进行改进,设计一种逻辑上采用TMR进行备份、系统上采用软错误算法缓解执行,同时采用局部纠错和动态可重构的方法进行抑制的方案.皮秒激光注入试验结果显示,采用所提供方案的FPGA较传统方案试验电流平稳,验证了该方案可以有效对SEU进行抑制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王兰	无锡职业技术学院基础课部	30	92	5.0	9.0
3	曹进德	东南大学数学学院	38	327	7.0	18.0
4	董宜平		9	12	2.0	3.0
5	谢达		8	9	2.0	3.0
8	郭俊杰		3	1	1.0	1.0