一种基于抗辐照体系架构的单粒子效应等效评估拟合算法

• 作者: 周国昌 王轩 贺勇鹏 赖晓玲 高翔
• 来源期刊: 同位素
• 学科: 工学
• 关键词: LET值 翻转截面 单粒子效应 抗辐照体系架构
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 放射性同位素应用技术
• 页码范围: 142-147
• 页数: 6页
• 分类号: TL99
• 字数: 3424字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/tws.2019.youxian.049

摘要

针对国内加速器辐照实验无法充分满足航天器单粒子抗辐照设计验证需求的问题,本文提出了一种单粒子效应抗辐照等效评估拟合算法模型.该算法模型基于抗辐照体系架构,构建可靠性贡献度耦合因子,获取单粒子效应下系统功能中断截面随粒子线性能量转移(LET)值变化的等效耦合关系,从而降低对辐照实验条件依赖,为航天器抗辐照设计验证提供更多基准数据.最终通过实验数据分析比对,该算法模型可用于辐照实验数据的评估拟合,提升了航天器系统抗辐照设计可靠性评估效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高翔		6	23	2.0	4.0
2	周国昌		20	50	4.0	5.0
3	赖晓玲		16	29	3.0	4.0
4	王轩		6	4	1.0	1.0
5	贺勇鹏		1	0	0.0	0.0