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摘要:
针对多层电路过渡结构的微波性能参数提取问题,提出了一种逐步增加过渡结构的设计方法.该方法建立了多个通道间插入损耗的数学关系,通过对插入损耗的测试值进行运算处理,得到各过渡结构的微波特性参数.最后用该方法提取了一种多层电路过渡结构的微波性能参数,包括垂直过渡损耗、水平过渡损耗、直角过渡损耗、单位长度传输线损耗.提取结果可为使用该叠层结构的微波电路设计提供参考.
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文献信息
篇名 一种提取多层印制电路微波过渡特性的方法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 微波技术 多层印制电路板 微波过渡结构 过渡参数提取
年,卷(期) 2020,(9) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 38-41
页数 4页 分类号 TN402
字数 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0911
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研究主题发展历程
节点文献
微波技术
多层印制电路板
微波过渡结构
过渡参数提取
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
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9543
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