嵌入式存储器动态故障诊断数据压缩设计

• 作者: 刘丰 李松 陈佳楠 马永涛
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器内建自测试 步进算法 诊断数据压缩 故障模式识别 动态故障
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 203-209
• 页数: 7页
• 分类号: TP333|TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.B1902504

摘要

在微纳米级工艺中,嵌入式存储器出现开路故障的概率增高,从而带来动态故障.当静态故障与动态故障同时存在时,传统的暂停导出内建自测试设计虽然可以将故障诊断数据正确输出,但存在诊断数据冗余的问题.因此,提出一种动态故障诊断数据压缩的内建自测试设计.在不影响诊断数据完好性的前提下,识别故障模式为行故障、列故障与单元故障,并对其诊断数据进行压缩解决诊断数据冗余的问题.仿真结果表明,该设计能够正确压缩动态故障诊断数据,大幅度提高输出效率,减少输出时间,并且面积开销较小.在8 K× 16的存储器的面积开销为3.16％,20％行列故障与5％动态故障下诊断数据压缩比为3.96％.