基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究

• 作者: 刘媛媛 蒋常斌 高剑
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微控制单元 并行测试 继电器矩阵
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 测试系统与模块化组件
• 页码范围: 116-120
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1903554

摘要

讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案.以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求.解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题,缩短了开发周期.通过自动测试系统验证,MCU芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源,实现了完全并行测试,与传统串行测试方法相比节约了测试时间,提高了芯片测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高剑		16	58	5.0	7.0
2	蒋常斌		6	43	3.0	6.0
3	刘媛媛		1	0	0.0	0.0