基于改进Harris角点检测的芯片图像快速校正

• 作者: 周伟 巢渊 李龑 李兴成
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: Harris角点检测 多边形逼近 最小二乘法 图像校正
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: “视觉测量与图像处理”专题|VISUAL MEASUREMENT AND IMAGE PROCESSING
• 页码范围: 74-81
• 页数: 8页
• 分类号: TP391|TN302
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.B2002901

摘要

以方形扁平无引脚封装(QFN)芯片为实验对象,针对芯片在封装缺陷视觉检测过程中的图像倾斜问题,提出一种半导体芯片图像快速校正方法.首先,提出改进Harris角点检测算法,结合多边形逼近方法提取目标轮廓拐角顶点;其次,通过最小二乘法对最长边顶点进行直线拟合;最后,根据直线拟合结果进行图像校正.实验结果表明,与传统Hough变换、最小外接矩法以及傅里叶变换校正方法相比,该方法获取的倾斜角度准确度更高,运行时间少于其1/5,速度更快且效率更高.