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摘要:
为了满足在K/Ka频带下设计硅基芯片电路时对器件模型精确测试的要求,文章分析了实现精确校准的硅基芯片TRL校准技术.根据TRL校准原理设计并制作了相应的校准件,用去嵌入的方式提取了片上电感、电容模型.在20 GHz~30 GHz高频应用中,验证了模型的准确性.实际测试结果表明该校准件达到了预期效果,仿真值与实测值拟合一致性好.
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去嵌入
计入辅助电路的TRL校准件设计
校准算法
晶体管测试
新型TRL校准件
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 硅基芯片TRL校准件的设计与制作
来源期刊 现代信息科技 学科 工学
关键词 硅基芯片 TRL校准技术 去嵌入
年,卷(期) 2020,(20) 所属期刊栏目 电子工程
研究方向 页码范围 23-25,30
页数 4页 分类号 TN386
字数 语种 中文
DOI 10.19850/j.cnki.2096-4706.2020.20.006
五维指标
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
硅基芯片
TRL校准技术
去嵌入
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代信息科技
半月刊
2096-4706
44-1736/TN
16开
广东省广州市白云区机场路1718号8A09
46-250
2017
chi
出版文献量(篇)
4784
总下载数(次)
45
总被引数(次)
3182
论文1v1指导