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摘要:
实验室间能力比对作为重要的外部质量评价手段,被越来越多的实验室所采用,它不仅是质量控制的一种有效方法,也是衡量各实验室间能力的一个重要手段.而半导体器件静态直流参数是器件基本参数之一,是半导体器件筛选环节必检项目.该文以半导体器件静态直流参数为例阐述实验室间能力比对的方法.
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文献信息
篇名 半导体器件静态直流参数能力比对方法
来源期刊 电脑知识与技术:学术版 学科 工学
关键词 能力比对 半导体器件 直流参数
年,卷(期) 2020,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 259-261
页数 3页 分类号 TP391
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵青莲 2 0 0.0 0.0
2 张学洋 2 0 0.0 0.0
3 郑晓红 2 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
能力比对
半导体器件
直流参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电脑知识与技术:学术版
旬刊
1009-3044
34-1205/TP
安徽合肥市濉溪路333号
26-188
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