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半导体器件静态直流参数能力比对方法
半导体器件静态直流参数能力比对方法
作者:
张学洋
赵青莲
郑晓红
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
能力比对
半导体器件
直流参数
摘要:
实验室间能力比对作为重要的外部质量评价手段,被越来越多的实验室所采用,它不仅是质量控制的一种有效方法,也是衡量各实验室间能力的一个重要手段.而半导体器件静态直流参数是器件基本参数之一,是半导体器件筛选环节必检项目.该文以半导体器件静态直流参数为例阐述实验室间能力比对的方法.
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文献信息
篇名
半导体器件静态直流参数能力比对方法
来源期刊
电脑知识与技术:学术版
学科
工学
关键词
能力比对
半导体器件
直流参数
年,卷(期)
2020,(12)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
259-261
页数
3页
分类号
TP391
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语种
DOI
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半导体器件
直流参数
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研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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电脑知识与技术:学术版
主办单位:
时代出版传媒股份有限公司
中国计算机函授学院
出版周期:
旬刊
ISSN:
1009-3044
CN:
34-1205/TP
开本:
出版地:
安徽合肥市濉溪路333号
邮发代号:
26-188
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
41621
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23
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0
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