SrZrO3掺杂K0.5Na0.5NbO3陶瓷介电弛豫的研究

• 作者: 陈开远 韦小利 梁燕文 雷秀云 刘来君
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 关键词: 钙钛矿 介电弛豫 阻抗谱 氧空位 激活能
• 年，卷（期）: 2021,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与试制|Research & Development
• 页码范围: 774-783
• 页数: 10页
• 分类号: TM535+.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2021.1674

摘要

采用传统固相反应技术制备出赝立方相(1-x)K0.5Na0.5NbO3-xSrZrO3(0.11≤x≤0.17)陶瓷.介电温谱测试结果表明,样品呈现"核-壳"结构.用Lichtenecker方程和典型的洛伦兹公式结合描述了核区域和壳区域对介电常数的贡献.随着SrZrO3含量增多,介电相变峰宽化,介电常数和损耗均下降.在高温下,通过阻抗图谱分析可知陶瓷样品中存在双电离氧空位,其弛豫行为可以用阿仑尼乌斯公式描述.同时,交流电导率满足普适介电响应定律.在直流电导中,温度越高热激活载流子浓度越大,随着SrZrO3掺杂量增加,晶格间载流子长程迁移或者跳跃变得更加困难.