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摘要:
空间辐射环境会导致静态随机存储器(static random-access memory,SRAM)型现场可编程逻辑门阵列(field programmable gate array,FPGA)发生单粒子翻转(single event upset,SEU)问题,其严重性将影响系统正常工作.本架构是基于Xilinx Virtex系列FPGA的多源重构方法,能够自主识别各种Xilinx Virtex系列FPGA,采用不同程序存储器源头对SRAM型FPGA进行灵活自主刷新和重构,并且还可以对SRAM型FPGA进行程序上注解决一些在轨遇到的问题,有效降低了 SRAM型FPGA在轨遇到单粒子问题的影响,成功实现了在轨定时刷新+多源+自主模式的抗单粒子加固可靠性方案.本设计已经实际应用于空间遥感红外相机,在轨运行情况表明该设计能有效减少单粒子翻转的次数,通过在轨自主重构可满足系统图像性能.
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基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟
SRAM型FPGA
单粒子翻转(SEU)模拟
部分重构
SRAM型FPGA多频度刷新器实现
单粒子翻转
刷新
多频度
FPGA
基于SRAM的FPGA片上容错技术
现场可编程门阵列
故障容错
三模冗余
局部重构
一种SRAM-FPGA在轨重构的工程实现方案
基于静态随机存取存储器型现场可编程门阵列
在轨重构
高可靠
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于SRAM型FPGA的多源自主重构方法
来源期刊 系统工程与电子技术 学科 工学
关键词 自主 多源 重构 刷新
年,卷(期) 2022,(4) 所属期刊栏目 电子技术|Electronic Technology
研究方向 页码范围 1093-1102
页数 10页 分类号 TP732.2|TP399
字数 语种 中文
DOI 10.12305/j.issn.1001-506X.2022.04.04
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研究主题发展历程
节点文献
自主
多源
重构
刷新
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
系统工程与电子技术
月刊
1001-506X
11-2422/TN
16开
北京142信箱32分箱
82-269
1979
chi
出版文献量(篇)
10512
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24
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