电子与封装期刊
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
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电子与封装

Electronics and Packaging

影响因子 0.2463
本刊是目前国内唯一以电子封装为主的技术刊物。
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
出版周期:
月刊
邮编:
214035
地址:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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  • 作者: 吕家力 朱婷 王立 陈云
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  1-4
    摘要: 由于铝线键合逐渐不能满足如今功率模块功率密度、工作温度不断提升的可靠性要求,因此采用铜线代替铝线,以实现更高的可靠性工作寿命.对比分析了铜线、铝线键合工艺的特点、结合强度和可靠性,证明了铜线...
  • 作者: 喻思 贵大勇 钱诚
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  5-9
    摘要: 结合气相二氧化硅对硅橡胶的增稠原理,研究了其对LED封装用荧光胶中荧光粉的抗沉淀性能.用气相二氧化硅对荧光胶进行了抗沉淀改性,并分别用硅烷偶联剂KH-560和KH-570对气相二氧化硅进行了...
  • 作者: 倪晓东 季伟伟 张凯虹 杜元勋
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  10-14
    摘要: NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性(Non-Volatile)特点,在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛.但由于此类器件在线编程及...
  • 作者: 张丽娟 徐彦峰 谢文虎
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  15-18
    摘要: 现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)提供了强大的可编程接口,支持灵活的现场可编程能力.动态可重构设计方法可以在尺寸、重量、功率和成本等方面...
  • 作者: 钱黎明 魏敬和
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  19-22
    摘要: 介绍了一种全差分增益增强CMOS运算放大器的设计和实现.该放大器用于12位20 MHz采样频率的流水线模/数转换器(A/D)的采样保持电路.为了实现大的输入共模范围,采用折叠式共源共栅放大器...
  • 作者: 屈凌翔 王胜
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  23-27
    摘要: 与总线架构相比,片上网络具有支持并行通信、良好的可扩展性、规则的结构、可重用性等优点.网络接口是片上网络中处理器核与路由节点之间的接口,网络接口的数据转化和传输效率影响整个片上网络的工作效率...
  • 作者: 涂波 谢长生 赵晓静
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  28-31,48
    摘要: 介绍了一种减小数字时钟延时单元温漂的方法,利用一个具有正温度系数的带隙基准电压源Bandgap,产生参考电压VREF;电压缓冲器LDO接收参考电压VREF并作用于延迟链;延迟链由延迟单元TA...
  • 作者: 徐大为 李艳艳 王青松
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  32-36
    摘要: CMOS集成电路技术的进一步发展和不断出现的新技术要求模型研究人员持续改进和增强VLSI电路设计和模拟的集约模型.美国Berkeley加州大学的BSIM团队对业界标准芯片仿真物理模型BSIM...
  • 作者: 宋立军
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  37-40
    摘要: 针对铜氧化物电阻存储器,通过优化硅化、氧化以及上电极制备等工艺得到具有良好性能的存储单元.通过选取合适的机台,形成了厚度符合需求的均匀铜氧化层.在氧化之前进行硅化处理,很好地解决了氧化层空洞...
  • 作者: 蒋大伟 赵金茹 陈杰
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  41-43
    摘要: 在CMOS多晶硅刻蚀工艺的基础上进行工艺开发,采用氯气和溴化氢气体进行硅槽刻蚀.通过对功率、压力、气体流量等工艺参数拉偏,用扫描电子显微镜观察硅槽侧壁形貌,分析各参数在反应离子刻蚀中所起到的...
  • 作者: 宿田 邱静君
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2017年9期
    页码:  44-48
    摘要: 集成电路芯片对器件参数的均匀性、稳定性要求很高.集成电路制造过程中由工艺异常引起的器件参数不均匀,直接影响着芯片性能和圆片良率.引起器件参数不均匀的原因千变万化,结合产品分析解决问题、保证芯...

电子与封装基本信息

刊名 电子与封装 主编 王虹麟
曾用名
主办单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所  主管单位 中国电子科技集团公司
出版周期 月刊 语种
chi
ISSN 1681-1070 CN 32-1709/TN
邮编 214035 电子邮箱 ep.cetc58@163.com
电话 0510-85860386 网址 www.ep.org.cn
地址 江苏无锡市惠河路5号(208信箱)

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