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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
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CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路技术应用及其发展前景研究
集成电路技术
元器件
半导体
系统设计
基于扫描的集成电路故障诊断技术
故障诊断
扫描诊断
全速诊断
IDDQ
IDDT
内容分析
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文献信息
篇名 美国集成电路产品结构的新动向
来源期刊 国际科技交流 学科 经济
关键词 美国 集成电路工业 产品结构 芯片技术
年,卷(期) 1991,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 17
页数 1页 分类号 F471.266
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
美国
集成电路工业
产品结构
芯片技术
研究起点
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相关学者/机构
期刊影响力
国际科技交流
年刊
北京复兴路15号
出版文献量(篇)
812
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2
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