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美国的抗辐射加固技术
美国的抗辐射加固技术
作者:
耿增建
许署明
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电子元件
抗辐射
加固
美国
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篇名
美国的抗辐射加固技术
来源期刊
航天出国考察技术报告
学科
工学
关键词
电子元件
抗辐射
加固
美国
年,卷(期)
1992,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
168-171
页数
4页
分类号
TN605
字数
语种
DOI
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电子元件
抗辐射
加固
美国
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研究来源
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引文网络交叉学科
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航天出国考察技术报告
主办单位:
出版周期:
半年刊
ISSN:
CN:
开本:
出版地:
北京市1408信箱
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
428
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