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摘要:
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提高MOS功率晶体管封装可靠性技术研究
金属-氧化物-半导体器件
功率品体管
封装
导通电阻
器件可靠性
功率晶体管热阻测试条件确定方法
功率晶体管
热阻
测试条件
神经MOS晶体管在A/D和D/A转换器中的应用
神经MOS晶体管
宏模型
A/D
D/A
雪崩晶体管在探地雷达中的应用
无载波探地雷达
脉冲源
雪崩三极管
仿真
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 VD—MOS功率晶体管的应用及雪崩能量测试
来源期刊 电子与仪表技术 学科 工学
关键词 功率晶体管 雪崩能量 测试
年,卷(期) 1992,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-7
页数 7页 分类号 TN323.4
字数 语种
DOI
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引文网络
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1992(0)
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研究主题发展历程
节点文献
功率晶体管
雪崩能量
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与仪表技术
双月刊
31-1446/TH
上海肇嘉滨路750号
出版文献量(篇)
226
总下载数(次)
0
总被引数(次)
0
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