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基于泊松分布的集成电路寿命计算
浴盆曲线
泊松分布
失效率
平均无故障时间
集成电路的分类
集成电路
数字集成电路
模拟集成电路
分类
集成电路的检测方法
集成电路
电子元件
测量
故障
封装集成电路分层因素分析
塑料封装
集成电路
分层
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 W88集成电路储存寿命项目
来源期刊 核武器与高技术 学科 工学
关键词 W88 集成电路 储存寿命项目
年,卷(期) 1998,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 54-64
页数 11页 分类号 TN406
字数 语种
DOI
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引文网络
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
W88
集成电路
储存寿命项目
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外核武器研究
季刊
四川省绵阳市919信箱803分箱
出版文献量(篇)
416
总下载数(次)
1
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0
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