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摘要:
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砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究
微波单片集成电路
可靠性预计
寿命试验
GaAs微波单片集成电路的主要失效模式及机理
砷化镓
微波单片集成电路
失效模式
退化机理
高性能GaAs微波单片集成电路负阻压控带通有源滤波器
负阻
压控
有源滤波器
微波单片集成电路
某单片微波集成电路漏电问题分析
单片微波集成电路
漏电
失效分析
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 彩电单片集成电路LA7680(下)
来源期刊 电子产品维修与制作 学科 工学
关键词 彩电 单片集成电路 LA7680
年,卷(期) 1998,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 43-45
页数 3页 分类号 TN949.12
字数 语种 中文
DOI
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
彩电
单片集成电路
LA7680
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品维修与制作
月刊
1006-5970
CN 11-3414/TN
北京市海淀区永定路123号
出版文献量(篇)
1381
总下载数(次)
9
总被引数(次)
0
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