基于最优神经网络的电路测试方法研究

• 来源期刊: 中山大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 测试生成 最优神经网络 能量函数
• 年，卷（期）: 1999,（6）
• 页码范围: 30-34
• 页数: 5页
• 分类号: TP183
• 语种: 中文

摘要

在数字电路最优神经网络模型的基础上,研究基于该模型的电路测试生成方法.首先获得了多输入基本门电路的最优神经网络能量函数的一般表达式,然后对这种测试方法的原理、实现步骤、以及加速测试的措施等进行了详细研究.结果表明以最优神经网络模型为基础的电路测试方法在测试生成的速度方面快于其它类似方法,如基于Hopfield神经网络的电路测试生成,具有较好的应用潜力.