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摘要:
应用光热电离光谱方法研究了MBE生长GaAs薄膜中Be受主的杂质能级.通过与理论计算的比较,将观测到的3个跃迁峰归属于G线、C线和D线跃迁,同时在实验上也观察到Be受主1s3/2(Γ+8)态到2p1/2(Γ-6)态跃迁,由实验结果算得Be受主的电离能为28.6meV.
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内容分析
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关键词热度
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文献信息
篇名 GaAs 中Be 受主的光热电离光谱研究
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 工学
关键词 浅杂质 受主 光热电离光谱
年,卷(期) 2000,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 385-388
页数 4页 分类号 TN2
字数 2096字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.2000.05.014
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研究主题发展历程
节点文献
浅杂质
受主
光热电离光谱
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
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3
总被引数(次)
28003
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